點擊圖片查看大圖博曼膜厚測試儀的出現(xiàn)解決了分析和測量日趨小型化的電子部件，包括線路板，芯片和連接器等帶來的挑戰(zhàn)。這種創(chuàng)新技術(shù)的，目前正在申請專利的X-射線光學(xué)可以使得在很小的測量面積上產(chǎn)生很大的
輻射強度.
博曼膜厚測試儀專有X-射線光學(xué)設(shè)計使得能夠在非常精細(xì)的結(jié)構(gòu)上進(jìn)行厚度測量和成分分析?？梢詣偃螠y量傳統(tǒng)的鍍層厚度測量儀器由于X-射線熒光強度不夠而無法測量到的結(jié)構(gòu).
具有強大功能的X-射線 軟件可以分析包含在金屬鍍層或合金鍍層中多達(dá)24種獨立元素的多鍍層的厚度和成分。
博曼膜厚測試儀特點：
綜合性能:鍍層分析 定性分析 定量分析 鍍液分析
鍍層分析:可分析單層鍍層,雙層鍍層,三層鍍層,合金鍍層.
鍍液分析:可分析鍍液的主成份濃度(如鍍鎳藥水的鎳離子濃度,鍍銅藥水的銅離子濃度等),簡單的核對方式,無需購買標(biāo)準(zhǔn)藥液.
定性定量分析:可定性分析20多種金屬元素,并可定量分析成分含量.
光譜對比功能:可將樣品的光譜和標(biāo)準(zhǔn)件的光譜進(jìn)行對比,可確定樣品與標(biāo)準(zhǔn)件的差別,從而控制來料的純度.
統(tǒng)計功能:能夠?qū)y量結(jié)果進(jìn)行系統(tǒng)分析統(tǒng)計,方便有效的控制品質(zhì).
鍍層測量儀,電鍍測厚儀,膜厚測量儀,金屬測厚儀,X射線測厚儀,無損測厚儀,鍍膜測厚儀,金鎳測厚儀,銅厚測量，我公司是博曼（bowman）儀器的大陸代理商，專業(yè)銷售：復(fù)合鍍層測厚儀、X射線元素分析儀、線路板銅厚測量儀、合金分析儀、產(chǎn)品RoHS檢測儀，鍍層測量儀,電鍍測厚儀,膜厚測量儀,金屬測厚儀,X射線測厚儀,無損測厚儀,鍍膜測厚儀,金鎳測厚儀,銅厚測量儀.
整體描述：
美國BOWMAN X-RAY 設(shè)備遵循 ASTM B568， DIN 50 987 和 ISO 3497 等國家和國際標(biāo)準(zhǔn)，主 要基於鍍層厚度測量和材料分析的 X-射線系統(tǒng)。採用全新數(shù)學(xué)計算方法,採用 新的 FP (Fundamental
Parameter）強大的電腦功能 來進(jìn)行鍍層厚度的計算，在加強的軟體功能之下，簡化了測量比較複雜鍍層的程式。
（1）、配置硬件革新：
采用半導(dǎo)體接收器，分辨率較傳統(tǒng)品牌比例接收品提高數(shù)倍,較傳統(tǒng)X-RAY精確度提高了50%以上， 在測試薄金（Au)方面表現(xiàn)更為突出。
（2）、超常保固期：2年（24個月），較其它品牌整機延長一倍；
（3）、前沿的測量技術(shù)：所有產(chǎn)品均為美國原裝進(jìn)口，
超低的售價：相對于其它品牌同檔次的機型售價降低了50%
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