點(diǎn)擊圖片查看大圖ZC2829系列元件測(cè)試儀是一種精度高、測(cè)試范圍寬、6位測(cè)試分辨率的新型阻抗測(cè)量?jī)x器。高達(dá)500kHz的測(cè)試頻率，以0.01Hz步進(jìn)任意編程、5mV-2V信號(hào)電平及直流內(nèi)置偏置電壓，可以滿足元件絕大部分低壓參數(shù)的測(cè)量要求，可廣泛應(yīng)用于諸如電感器、電容器等元器件的性能分析。儀器所提供的HANDLER（選件）、GPIB（選件）、LAN、RS232C、USB HOST接口為儀器使用于元件自動(dòng)分選系統(tǒng)、與計(jì)算機(jī)通訊及測(cè)試過(guò)程記錄提供了充分的條件。
產(chǎn)品型號(hào)
ZC2829
精密LCR數(shù)字電橋
基本測(cè)量準(zhǔn)確度
LCRZ
0.05%
校準(zhǔn)條件
預(yù)熱時(shí)間：≥30分鐘，環(huán)境溫度：23±5℃，
信號(hào)電壓：0.3Vrms-1Vrms
清“0”：OPEN、SHORT后，測(cè)試電纜長(zhǎng)度：0m
測(cè)試信號(hào)頻率
ZC2829
范圍：20Hz-500kHz
小分辨率：10mHz
信號(hào)源輸出阻抗
10Ω、30Ω、50Ω、100Ω可選，±2%@1kHz
測(cè)試信號(hào)電平
正常
5mV-2Vrms
分辨率：1mV,準(zhǔn)確度：
恒定電平
10mV-1Vrms
10%×設(shè)定電壓+2mV
DC偏置電流源（選件）
0-±100mA
LCR測(cè)試參數(shù)
Z、Y、C、L、X、B、R、G、D、Q、θ、DCR、Turn-Ratio、Phase、LK
DCR顯示范圍
0.00001Ω-99.9999MΩ
LCR參數(shù)顯示范圍
Z、R、X
Y、G、B
C
L
D
Q
θ(DEG)
θ(RAD)
Δ%
0.00001Ω～99.9999MΩ
0.00001us～99.9999s
0.00001pF～9.99999F
0.00001uH～99.9999kH
0.00001～9.99999
0.00001～99999.9
-179.999～179.999
-3.14159～3.14159
-999.999%～999.999%
測(cè)量速度（≥1kHz）
快速：32ms,中速：90ms,慢速：650ms
等效電路
串聯(lián)，并聯(lián)
量程方式
自動(dòng)，保持
觸發(fā)方式
內(nèi)部，手動(dòng)，外部，總線
平均次數(shù)
1-255
校準(zhǔn)功能
開(kāi)路，短路，負(fù)載，掃頻/點(diǎn)頻清零
內(nèi)部直流偏置源
0V、1.5V、2V,準(zhǔn)確度：1%
比較器功能
10檔分選，BIN1-BIN9,NG,AUX
檔計(jì)數(shù)功能
PASS、FAIL前面板LED直接顯示
存儲(chǔ)器
20組LCRZ儀器設(shè)定文件記憶
40組掃描設(shè)定文件記憶
接口
控制接口
HANDLER(選件)
通訊接口
LAN、GPIB(選件)、RS232C
存儲(chǔ)器接口
USB HOST （U盤存儲(chǔ)接口）
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